证明认证问题的平方和下界的机制
摘要：通过将Barak等人[FOCS 2016]用于证明种植团的平方和下界的技术推广，本文构建了一般的机制来证明认证问题的平方和下界。利用这一技术，我们证明了张量PCA、稀疏PCA的Wishart模型以及我们称之为种植微密子图的变体的度为$n^{\epsilon}$的平方和下界。
作者：Aaron Potechin, Goutham Rajendran
论文ID：2011.04253
分类：Computational Complexity
分类简称：cs.CC
提交时间：2023-02-13