给定度数的超图采样
摘要：通过将超图的关联矩阵视为一个二部图的双关联矩阵，我们得到了超图和二部图之间的著名联系。我们利用这个联系来描述和分析一种用于采样给定度序列的简单均匀超图的拒绝抽样算法。我们的算法使用一个称为$\mathcal{A}$的算法作为黑盒子，用于在（期望）多项式时间内以给定度数的均匀或近似均匀方式对二部图进行采样。超图采样算法的期望运行时间取决于二部图采样算法$\mathcal{A}$的（期望）运行时间，以及一个给定度数的均匀随机二部图对应于简单超图的概率。我们给出了对超图度序列的一些条件，保证了这个概率被一个正常数从下方界定。
作者：Martin Dyer, Catherine Greenhill, Pieter Kleer, James Ross, Leen Stougie
论文ID：2006.12021
分类：Discrete Mathematics
分类简称：cs.DM
提交时间：2021-07-14