交叉频谱测量统计
摘要：交叉谱方法是通过同时使用两个独立的仪器测量信号$c(t)$来进行的。每个仪器通过其内在的（白）噪声对全局噪声做出贡献，而我们想要表征的信号$c(t)$可能是（红）噪声。我们首先将交叉谱的实部定义为一个相关的估计量。然后，我们确定了此估计量的概率密度函数（PDF），并知道噪声水平（直接问题）为Variance-Gamma（V$Gamma$）分布。接下来，我们通过贝叶斯定理解决“逆问题”，以获得一个上限，从而了解估计值，通过大规模蒙特卡洛模拟进行了检验，发现V$Gamma$在任意自由度（dof）下都非常可靠。最后，我们将此方法与使用Karhunen-Lo`{e}ve变换（KLT）的其他方法进行比较。我们发现，由于KLT更好地考虑了可用信息，因此得到的信号水平上限略有不同。
作者：Antoine Baudiquez, ''Eric Lantz, Enrico Rubiola, Franc{c}ois Vernotte
论文ID：2003.07118
分类：Data Analysis, Statistics and Probability
分类简称：physics.data-an
提交时间：2020-03-17