摘要：直接定量测量高性能半导体聚合物薄膜内层的厚度、粗糙度和取向，揭示了超表面的晶体定向。
作者：Eliot Gann, Mario Caironi, Yong-Young Noh, Yun-Hi Kim and Christopher R. McNeill
论文ID：1805.09183
分类：Applied Physics
分类简称：physics.app-ph
提交时间：2018-05-24
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