电流迁移行为的阵列结构建模与仿真
摘要：分析模型和算法的开发用于计算通过阵列结构中的不均匀电流分配。我们提出了一种应力时间转化公式和累积失效分布方程，用于模拟电迁移应力或破坏对通过阵列结构的记忆效应。我们开发了一种基于任意通过失效序列的通过阵列电迁移（EM）寿命投影方法，并证明了所提出的通过阵列EM寿命分布趋势与实验结果具有很好的相关性。
作者：Karthik Airani, Rohit Guttal
论文ID：1801.08281
分类：Applied Physics
分类简称：physics.app-ph
提交时间：2018-01-26