不均匀电流分布建模和基于随机行走的变异分析用于互连电迁移估计
摘要：模拟和建模芯片内部连线结构的不均匀电流分布，考虑不均匀电流分布时出现显著差异。使用有限元方法来分析各种变化效应。使用布雷赫长度效应和分析电磁寿命计算快速识别芯片内电磁弱线。我们提出了一种基于随机行走的方法来评估电磁迁移可靠性对芯片内变化的影响。实验结果表明，在变化效应存在时电磁迁移寿命明显下降。
作者：Karthik Airani, Rohit Guttal
论文ID：1712.08722
分类：Applied Physics
分类简称：physics.app-ph
提交时间：2017-12-27