OpenSEA：软错误分析的半形式方法
摘要：Alpha粒子和宇宙射线会导致芯片中的位翻转。保护电路可以缓解问题，但会增加芯片面积和功耗，因此设计师们努力优化它们。这导致了错误：未检测到的故障可能导致错误计算，警报有关无害故障的检查器会带来性能损失。这样的错误很难找到：使用测试进行电路模拟效率低下，因为需要枚举巨大的故障时间和位置空间，并且形式化方法不适用于探索全部输入。在本文中，我们在设计师的输入测试上使用形式化方法，同时保持时间和位置开放。这种想法是OpenSEA工具的核心。OpenSEA可以（i）找到易受和受保护免受故障影响的锁存器，（ii）找到导致检查器误报的测试，（iii）使用固定和开放的输入，以及（iv）使用环境假设。对多个工业设计进行的评估表明，OpenSEA产生了有价值的结果。
作者：Patrick Klampfl, Robert Koenighofer, Roderick Bloem, Ayrat Khalimov, Aiman Abu-Yonis, Shiri Moran
论文ID：1712.04291
分类：Other Computer Science
分类简称：cs.OH
提交时间：2017-12-13