聚合物表面电无电镀过程中银层形成的纳米尺度表征
摘要：量子化的透射电子显微镜（TEM）方法用于测量纳米颗粒的形状、大小和体积，这些参数决定了其性质。本研究分析了在SU-8聚合物上通过电发镀在金纳米颗粒（Au NPs）作为成核剂的银纳米颗粒。原子序数对比（Z-contrast）成像技术揭示了每个Au NP的高度和有效直径，并得到一个体积分布。不同的还原剂产生了不同大小的Au NPs，它们被发现在聚合物表面上，有些情况下还埋藏在表面以下几纳米之处。Au NPs的形态对于使用表面结合的纳米颗粒作为成核位点的体系非常重要，比如电发冶金。本研究还分析了通过对SU-8聚合物上的氢醌进行还原而形成的电发沉积银层。
作者：Aniruddha Dutta, Biao Yuan, Helge Heinrich, Christopher N. Grabill, Stephen M. Kuebler, Aniket Bhattacharya
论文ID：1711.07180
分类：Applied Physics
分类简称：physics.app-ph
提交时间：2017-11-21