金表面多光子发射电子的发散度表征的速度图像成像
摘要：用速度图像成像光谱仪表征光电子束的横向标准发射度 用于检测系统记录和分析光电子的二维投影速度分布图像，从而获得光电子束的横向标准发射度。利用光电子发射角度的分布函数以及一个数学方法，重构三维速度分布曲线。首先，通过在倾斜角度辐照下使用中心波长为800nm的强度为45fs的激光脉冲，研究了从平面Au表面的多光子发射。重建的能量分布与Berglund-Spicer光电子理论非常吻合。内在电子束的横向标准发射度分别为0.52和0.05$pi cdot mm cdot mrad$在$X$-和$Y$-方向上。
作者：Hong Ye, Sebastian Trippel, Michele Di Fraia, Arya Fallahi, Oliver D. M"ucke, Franz X. K"artner, and Jochen K"upper
论文ID：1707.06472
分类：Applied Physics
分类简称：physics.app-ph
提交时间：2018-04-18