测试微流控全可编程阀阵列（FPVA）
摘要：全可编程阀芯阵列（FPVA）已经成为下一代流程基础的微流控生物芯片的新架构。该2D阵列由定期排列的阀组成，用户可以动态配置来实现不同形状和大小的微流体设备以及互连。此外，底层结构的规则性使FPVA更容易集成在小芯片上。然而，这些阵列可能会遭受各种制造缺陷，例如控制和流动通道的堵塞和泄漏。不幸的是，目前还没有有效的方法测试这种通用架构。本文提出了一种使用流动路径和割集概念的新颖表达，并描述了一种基于ILP的分层策略，用于生成能够检测FPVA中多个故障的紧凑测试集。模拟结果证明了所提方法在仅使用少量测试向量检测制造缺陷方面的有效性。
作者：Chunfeng Liu, Bing Li, Bhargab B. Bhattacharya, Krishnendu Chakrabarty, Tsung-Yi Ho, Ulf Schlichtmann
论文ID：1705.04996
分类：Emerging Technologies
分类简称：cs.ET
提交时间：2017-05-16