可采用模型检验方法的可逆逻辑电路的精确合成
摘要：可逆逻辑电路的合成在过去十年中引起了广泛关注。已经提出了各种合成技术，一些是生成最优解（门数最少）的准确合成技术，而其他一些则是可扩展的，可以处理更大的函数但会生成次优解。尽管可扩展合成对于电路设计非常重要，但准确合成也非常重要，因为它有助于构建用于合成更大函数的设计库。在本文中，我们提出了一种使用模型检查的准确合成技术来合成可逆电路。我们将合成问题构建为模型检查实例，并提出了一个迭代的有界模型检查调用来进行最优合成。对可逆逻辑基准测试的实验显示了最优电路的成功合成。我们还展示了多达10个变量和10个门的随机函数的最优合成。
作者：Rajarshi Ray, Arup Deka, Kamalika Datta
论文ID：1702.07470
分类：Emerging Technologies
分类简称：cs.ET
提交时间：2017-02-27