用巧合的OII 83.4 nm空气辉光和Millstone Hill雷达评估电离层密度
摘要：测试OII 83.4 nm辐射特征作为电离层参数的效用。使用国际空间站（ISS）上的远程大气与电离层探测系统（RAIDS）极紫外光谱仪观测到的83.4 nm辐射的边缘剖面与以最佳拟合的查普曼-{alpha}函数参数化的由Millstone Hill雷达测得的地基电子密度剖面预测的白昼辐射剖面进行比较。RAIDS观测和模型在Millstone Hill和RAIDS视场交合期间进行比较。这些RAIDS观测显示了2010年1月15日和3月10日两天之间顶侧形态的明显差异，与前向模型形态密切匹配，并证明83.4 nm辐射对太阳极小期间ISS 340 km高度处电离层密度剖面的变化敏感。我们发现在假设以ISR测量为基础的恒定刻度高度查普曼-{alpha}函数最佳拟合的模型化83.4 nm辐射剖面和假设可变刻度高度的模型化83.4 nm辐射剖面之间没有显著差异。
作者：Ewan S. Douglas, Steve M. Smith, Andrew W. Stephan, Lauren Cashman, Rebecca L. Bishop, Scott A. Budzien, Andrew B. Christensen, James H. Hecht, and Supriya Chakrabarti
论文ID：1611.01468
分类：Space Physics
分类简称：physics.space-ph
提交时间：2016-11-07