摘要：仿真结果表明EM方法引导到比其它竞争方法产生更小ISE的变形测量。 EM解开了数据到B样条插值模拟，并且通过在相对宽的bin中解开来补充产生直方图和误差矩阵的结果，而无需显式正则化。
作者：Guenter Zech
论文ID：1607.06910
分类：Data Analysis, Statistics and Probability
分类简称：physics.data-an
提交时间：2016-07-26
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