使用XFEL源的单光子计数（SPC）成像模式
摘要：高探测效率（超过50％）和吉贝赫兹（GHz）帧速率的要求概要述评了洛斯阿拉莫斯提议的42keV X射线自由电子激光器（XFEL）的要求。分析了使用C（金刚石）、Si、Ge和GaAs半导体传感器的直接探测方案。使用Si的单光子计数（SPC）模式和弱SPC模式可能满足效率和帧速率要求，并且在光子能量增加时对光电吸收和康普顿物理学都有用。将作为实现SPC模式的可能手段的多层三维（3D）检测器结构与广泛使用的二维（2D）混合平面电极结构和3D深埋电极结构进行了比较。厚度不到100微米的薄膜相机与内置薄ASIC器件的演示可能是实现XFEL多层3D探测器和SPC模式的初步步骤。
作者：Zhehui Wang
论文ID：1509.03690
分类：Instrumentation and Detectors
分类简称：physics.ins-det
提交时间：2023-08-22