基于碳纳米管的延迟模型:采用电流模式技术的高速能效芯片数据传输

摘要:高密度VLSI网络的速度是一个主要问题。本文提出了具有电阻负载终端的VLSI互联中的电流模式信号的闭形式延迟模型。RLC互连线使用传输线的特征阻抗和电感效应进行建模。在低技术节点下,电感效应是主导因素,并被建模为等效电阻。在该模型中,使用有限差分方程设计了一阶传递函数,并在源端和负载端应用边界条件。观察到在所提出的模型中,主导极点决定了系统的响应和延迟。在45nm技术节点上,使用CNIA工具(碳纳米管互连分析器)估计了互连线的参数。验证了所提出的新型电流模式模型在CNT材料上的优越性。与电压模式信号相比,其优越性因子保持在66.66\%。并且,对于在互连线上跨越CNT材料传输单个位的情况,电流模式消耗0.015pJ的能量,而电压模式消耗0.045pJ。其次,显示了集总RLC电路的阻尼因子是一个有用的性能指标。

作者:Sunil Jadav, Munish Vashistah, Rajeevan Chandel

论文ID:1412.7818

分类:Emerging Technologies

分类简称:cs.ET

提交时间:2014-12-30

PDF 下载: 英文版 中文版pdf翻译中