Co、Ni和Cu在FeTe0.65Se0.35单晶中的掺杂效应
摘要：FeTe0.65Se0.35单晶中掺杂Cu、Ni和Co替代Fe，并测量其电阻率、磁电阻和磁化率。晶体是通过Bridgman法生长的。电阻率测量表明，超导性消失的速率与杂质的名义价态相关。通过磁电阻我们评估了掺杂对超导基本参数（如上临界磁场和相干长度）的影响。我们发现掺杂可能导致两个组分的超导行为，可能是由于杂质周围的局部电荷压低所致。
作者：V. L. Bezusyy, D. J. Gawryluk, M. Berkowski, M. Z. Cieplak
论文ID：1205.6295
分类：Superconductivity
分类简称：cond-mat.supr-con
提交时间：2023-07-19