扫描式时序电路测试中的功率管理
摘要：不是每个扫描单元在扫描测试中对功耗的贡献相等。某些扫描单元的转换比其他扫描单元的转换对电路的内部信号线产生更多的切换。因此，这些扫描单元的转换对测试过程中的功耗有更大影响。这些扫描单元被称为功耗敏感的扫描单元。提出了一种基于Verilog的方法来识别一组功耗敏感的扫描单元。在扫描移位过程中添加额外的硬件以冻结功耗敏感的扫描单元的输出，以减少移位功耗。当多个扫描链与冻结功耗敏感的扫描单元结合使用时，测试过程中的总功耗可以大大降低。
作者：Reshma.p
论文ID：1106.2794
分类：Computational Engineering, Finance, and Science
分类简称：cs.CE
提交时间：2015-03-13