功能BIST的测试生成的进化方法
摘要：进化方法在功能BIST测试生成中的应用 功能BIST测试生成涉及到测试数据量的最小化，本文考虑了一个进化方法。该方法允许设备的微程序测试其逻辑，并为系统提供一个观察结构，为给定架构生成适当的测试数据。本文提出了两种以确定性的方式在功能层面上产生测试集的方法。第一种方法基于经典的遗传算法，采用二进制和算术交叉和变异操作符。第二种方法使用遗传编程，其中测试被表示为一系列微操作。在后一种情况下，我们采用基于交换测试子序列的两点交叉和以随机替换微操作或操作数实施的变异。通过程序实现的实验数据显示了所提出方法的效果。
作者：Y.A.Skobtsov, D.E.Ivanov, V.Y.Skobtsov, R.Ubar, J.Raik
论文ID：1008.0063
分类：Neural and Evolutionary Computing
分类简称：cs.NE
提交时间：2010-08-03