激光驱动的Xe团簇中极端电离的阶梯状强度阈值行为
摘要：观察到嵌入在氦纳米液滴中的Xe团簇在受到强烈飞秒激光脉冲（波长为800nm）照射后生成高度带电的Xeq+离子（q=24）。激光强度分辨测量显示，高q离子的产生始于意料之外的低阈值强度（约为10^14 W/cm^2）。在阈值以上，Xe离子的带电谱很快饱和，并且对于更高的激光强度变化较弱。这些观察与分子动力学分析结果的良好一致性，使我们能够确定产生高度带电离子的机制，以及电离过程意外的强度阈值行为。
作者：T. D"oppner, J.P. M"uller, A. Przystawik, S. G"ode, J. Tiggesb"aumker, K.-H. Meiwes-Broer, C. Varin, L. Ramunno, T. Brabec, and T. Fennel
论文ID：0908.2145
分类：Atomic and Molecular Clusters
分类简称：physics.atm-clus
提交时间：2010-08-30