暴露于强烈X射线脉冲的团簇中的电离和电荷迁移
摘要：受强烈激光脉冲照射的有限样品中的电荷迁移的普遍情景。通过对氖团簇在由X射线自由电子激光源产生的强短脉冲下的微观计算，证实了这一情景，并指出了强内部场引起的场电离的突出作用。后者导致了一个核壳体系的快速形成，核内是一个几乎静态的被屏蔽离子构成的核，而外壳则会爆炸。将外壳离子替换为一种不同的材料，如氦作为牺牲层，可以显著改善嵌入团簇的衍射图像，从而减少相干衍射成像的辐射损伤后果。
作者：Christian Gnodtke, Ulf Saalmann, Jan M. Rost
论文ID：0902.3940
分类：Atomic and Molecular Clusters
分类简称：physics.atm-clus
提交时间：2009-04-30