摘要：层次化的三模冗余（TMR）应用增加了数字集成电路（IC）的容错性。本文提出了一个简单的概率模型，用于分析层次化TMR网络的故障掩盖性能。通过理论比较了二阶TMR网络与一阶TMR网络的性能改进。
作者：B. Baykant Alagoz
论文ID：0902.0241
分类：Other Computer Science
分类简称：cs.OH
提交时间：2009-02-03
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