PIXE和RBS分析微晶体内部包裹物
摘要：使用3 MeV的质子束的核微探针的一个特点是粒子的远程范围（在轻基体中约为70微米）。使用EDS分析和多层方法处理X射线谱的PIXE方法允许测量晶内包体的化学成分，前提是包体的层厚和厚度在束击点处的知道（分别为Z和e）（包体底部的深度为Z + e）。矿物中包体的参数Z可以使用电动显微镜测量精度约为1微米。然而，如果分析的包体具有复杂的形状，则该值可能会明显偏离Z。参数e几乎无法用光学方法测量。通过使用RBS和PIXE测量相结合，可以获得定量元素分析所需的几何信息。本文将介绍对合成样品的测量，以调查该技术的优势，并对石英中的天然固体和流体包体进行测量。将讨论几何参数对PIXE浓度测定的影响。特别是，将介绍通过结合PIXE-RBS进行独立培爪检测的精确性。
作者：David Strivay (ISTO), Claire Ramboz (ISTO), J.P. Gallien (LPS), D. Grambole, Kalin Kouzmanov (CERI)
论文ID：0806.1605
分类：Geophysics
分类简称：physics.geo-ph
提交时间：2008-12-18