集成MEMS谐振器品质因数测量的架构

摘要:一种用于电测微机电系统谐振器品质因数的结构设计研究

作者:H. Mathias (IEF), F. Parrain (IEF), J.-P. Gilles (IEF), S. Megherbi (IEF), M. Zhang (IEF), Ph. Coste (IEF), A. Dupret (IEF)

论文ID:0802.3767

分类:Other Computer Science

分类简称:cs.OH

提交时间:2008-02-27

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