聚合物基底和涂层纹理分析的傅立叶光学
摘要：基于衍射光学的底纹检测设备在纸张、纺织品和非织造品的生产过程中已经提出。尽管存在完全基于图像处理的设备，但基于衍射光学的使用仍然具有许多优势，例如对振动不敏感且不受环境光影响。基于透射光，它可以提供折射率变化、厚度变化和表面条件的信息。我们研究了使用光学傅里叶光谱来识别聚合物薄膜的纹理。如功率谱所示，纹理很少是均匀的。我们在几种底纹和薄墨涂层上进行了研究，并分析了体积和表面条件的作用。
作者：Amelia Sparavigna, Rory A. Wolf
论文ID：0801.2946
分类：Popular Physics
分类简称：physics.pop-ph
提交时间：2008-01-21