CCD 高速列并行读出的辐射硬化研究
摘要：使用电荷耦合器件（CCDs）成功地在过去的二十年中用于几个高能物理实验中。它们高空间分辨率和薄敏感层使它们成为研究短寿命粒子的优秀工具。线性对撞机味道鉴别（LCFI）合作团队正在为国际线性对撞机（ILC）的顶点探测器开发列并行CCDs（CPCCDs）。CPCCDs的读出速度比标准CCDs快得多，极大地提高了它们的操作速度。报道了原型CPCCD的电荷传输效率（CTI）的详细模拟结果，并研究了栅电压对CTI的影响。通过模拟不同浓度和操作温度下两个电子陷阱能级（0.17和0.44 eV）的效果，研究了辐射对CPCCD的CTI的影响。还研究了CTI对不同占有率（命中像素的百分比）和读出频率的依赖性。对于ILC提出的读出速度范围，发现CPCCD的最佳工作温度，即电荷俘获效应最小的温度约为230 K。全模拟结果与简单的解析模型进行了比较。
作者：Andre Sopczak (Lancaster University, UK; on behalf of the LCFI Collaboration)
论文ID：0711.3561
分类：Instrumentation and Detectors
分类简称：physics.ins-det
提交时间：2008-11-26