摘要：偏置电压对粗糙表面的统计性质的影响：原子力显微镜技术及其随机分析的研究
作者：P. Sangpour, G. R. Jafari, O. Akhavan, A.Z. Moshfegh, and M. Reza Rahimi Tabar
论文ID：0704.1029
分类：Data Analysis, Statistics and Probability
分类简称：physics.data-an
提交时间：2015-05-13
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